9813DXC是一款精準(zhǔn)高效、可靠便捷的先進(jìn)低頻噪聲分析平臺(tái)，為半導(dǎo)體行業(yè)探索研究新領(lǐng)域、優(yōu)化先進(jìn)工藝制程、建模驗(yàn)證設(shè)計(jì)和評(píng)估電路性能等，提供了從頻域到時(shí)域完整的噪聲測(cè)試及分析解決方案，可以滿足各種不同工藝平臺(tái)下新材料新器件和集成電路低頻噪聲測(cè)試的需求。
支持閃爍噪聲（1/f噪聲）和隨機(jī)電報(bào)噪聲（RTN或RTS）等高精度高速度頻譜分析和測(cè)量；

高電壓、高電流、高阻抗測(cè)量范圍，廣泛適用于各類材料器件和電路在廣泛的工作條件下的噪聲測(cè)試應(yīng)用；

晶圓級(jí)噪聲測(cè)試精度和帶寬，噪聲測(cè)試電流精度低至10-27A2/Hz

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理能力，內(nèi)置豐富的測(cè)試應(yīng)用庫，操作便捷，直觀易用；

支持并行測(cè)試架構(gòu)解決方案以及協(xié)同F(xiàn)S-Pro半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)等方式，大幅提高測(cè)試效率和吞吐量。